Revendications pour le renforcement des propriétés mécaniques
La technique de microscopie à forme atomique est utilisée pour réaliser une topologie (profilomètrie) de la cuticule tout en mesurant…
La technique de diffraction des rayons-X consiste à remonter aux organisations atomiques et moléculaires au sein d’un matériau à partir des directions et des intensités des faisceaux de rayons-X déviés par les atomes.
L’information structurale est d’autant plus riche que le matériau est « bien ordonné », on dit aussi « cristallisé ». Outre la structure cristalline, cette technique fournit des informations sur la taille des cristallites, leur orientation ou bien encore les contraintes internes. Ces informations sont souvent indispensables pour comprendre les propriétés d’un matériau et suivre les effets d’un traitement sur ce matériau. La diffraction des rayons X est aussi un outil efficace de contrôle qualité et d’identification de substances cristallines.
En couplant la technique de diffraction à des micro-faisceaux de rayons X issus de sources synchrotron, la diffraction X devient microdiffraction. Cela permet de réaliser des cartographies structurales 2D et d’analyser des objets micrométriques.
> Informations structurales de l’échelle atomique à l’échelle supramoléculaire
> Grande sensibilité aux changements structuraux
> Diversité des dispositifs de mesure : in situ, volume ou surface, suivi en temps
> Résolution spatiale de l’ordre du micromètre
> Mesures non destructives
> Préparation minutieuse des conditions expérimentales, adaptées à chaque typologie d’échantillon.
> Analyse des données, basée sur les connaissances de nos experts en diffraction des différents types de matériaux.
> Mise au point de protocoles d’analyse pour des échantillons aussi complexes que les échantillons biologiques (notamment peau, cheveu) en microdiffraction.
> Offre d’analyses à façon : de manière unitaire ou sur de grandes séries d’échantillons, en environnements contrôlés si besoin.
Microscopie électronique à balayage basse tension (SEM-FEG)
Microtomographie rayons-X (µCT)
Microtomographie rayons-X in situ
Microscopie à force atomique (AFM)
Diffusion des rayons-X aux petits et grands angles (SAXS, WAXS)
Fluorescence rayons-X en microfaisceaux (µXRF)
Spectroscopies infrarouge (FT-IR) et ultraviolet (UV)
Les diffractomètres pour mesures en réflexion ou transmission, en incidence rasante ou aux petits angles se trouvent en tant qu’équipements de laboratoire ou en installation synchrotron (respectivement plus accessible ou plus performant).
La technique de microscopie à forme atomique est utilisée pour réaliser une topologie (profilomètrie) de la cuticule tout en mesurant…
Observer et quantifier la présence d’un actif dans un tissu est souvent difficile à cause des très faibles quantités de…
La microtomographie à rayons-X, véritable microscopie 3D non destructive,…
Initial question Which phenomena are decisive in oral drug…
Une équipe pluridisciplinaire experte des techniques analytiques utilisées par les scientifiques.
Des approches analytiques originales pour vos développements de produits, de procédés, en contrôle ou marketing.
Connaissances et savoir-faire uniques en sciences analytiques et imagerie 2D-3D-4D.
par FX Com’Unik 