Spectroscopie d’absorption des rayons X du calcium à l’échelle du micron sur l’os cortical
Spectroscopie de l’absorption des rayons X de l’angle K…
La Microscopie à Force Atomique (AFM) est une puissante technique d’imagerie et de caractérisation à l’échelle nanométrique. Son principe repose sur l’interaction d’une nano-pointe avec la surface d’un échantillon. L’AFM donne accès à un grand nombre de paramètres : en premier lieu la topographie à l’échelle nanométrique mais aussi les propriétés mécaniques, électriques ou magnétiques locales.
L’AFM est une technique extrêmement performante pour caractériser la structure et les propriétés des surfaces.
L’AFM peut être avantageusement utilisée dans l’ingéniérie des matériaux et les études d’échantillons biologiques.
Spectroscopie de l’absorption des rayons X de l’angle K…
La microtomographie à rayons-X, véritable microscopie 3D non destructive,…
Observer et quantifier la présence d’un actif dans un tissu est souvent difficile à cause des très faibles quantités de…
optionel
Diffusion des rayons-X aux petits et grands angles (SAXS, WAXS)
Microscopie électronique à balayage (SEM-FEG)
Microtomographie rayons-X (µCT)
Fluorescence rayons X en microfaisceaux (µXRF)
Une équipe pluridisciplinaire experte des techniques analytiques utilisées par les scientifiques.
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Connaissances et savoir-faire uniques en sciences analytiques et imagerie 2D-3D-4D.
par FX Com’Unik 