Spectroscopie d’absorption des rayons X du calcium à l’échelle du micron sur l’os cortical
Spectroscopie de l’absorption des rayons X de l’angle K…
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La microscopie électronique à balayage (SEM) est la technique de choix pour observer la surface des échantillons à très haute résolution, jusqu’au nanomètre. Les observations en microscopie peuvent être couplées à une analyse par EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometry) qui résulte en une cartographie des éléments chimiques en surface.
Un microscope électronique SEM-FEG se caractérise par une source d’électrons spéciale (FEG pour Field Emission Gun) permettant de travailler à basse tension ce qui est particulièrement bien adapté pour l’analyse de la plupart des matériaux organiques fragiles, tels la peau ou le cheveu.
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La microtomographie à rayons-X, véritable microscopie 3D non destructive,…
Observer et quantifier la présence d’un actif dans un tissu est souvent difficile à cause des très faibles quantités de…
SEM-FEG
EDX
Microscopie à force atomique (AFM)
Microtomographie rayons X (µCT)
Fluorescence rayons X en microfaisceaux (µXRF)
Diffusion des rayons X aux petits et grands angles (SAXS, WAXS)
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