Microscopie électronique à balayage

La microscopie électronique à balayage (SEM) est la technique de choix pour observer la surface des échantillons à très haute résolution, jusqu’au nanomètre. Les observations en  microscopie peuvent être couplées à une analyse par EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometry) qui résulte en une cartographie des éléments chimiques en surface.

Un microscope électronique SEM-FEG se caractérise par une source d’électrons spéciale (FEG pour Field Emission Gun) permettant de travailler à basse tension ce qui est particulièrement bien adapté pour l’analyse de la plupart des matériaux organiques fragiles, tels la peau ou le cheveu.

Atouts de la microscopie électronique à balayage

  • Morphologie de surface
  • Haute résolution spatiale, meilleure que la microscopie optique
  • Cartographie des éléments chimiques en surface
  • Observations non destructives des échantillons fragiles
  • Pas de coating nécessaire contrairement au SEM standard

Mesures et analyses en microscopie électronique à balayage

L’expertise Novitom en microscopie électronique SEM-FEG

  • Préparation minutieuse des conditions expérimentales, adaptées à chaque typologie d’échantillon.
  • Analyse des données, basée sur le savoir-faire de nos experts en microscopie électronique.
  • Mise au point de protocoles d’analyse pour des échantillons aussi complexes que les échantillons biologiques, notamment peau et cheveu.
  • Offre de protocoles de mesures et d’analyses à façon.

Types d’échantillons

  • Tout matériau solide ou semi-solide
  • Produits organiques non liquides
  • Cheveux
  • Stratum corneum

Exemples d'analyses exploitant la microscopie SEM-FEG

Analyse et visualisation de volumes des glandes sébacées

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La microtomographie à rayons-X, véritable microscopie 3D non destructive,…

Revendication pour la pénétration d’un actif dans la cuticule

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Observer et quantifier la présence d’un actif dans un tissu est souvent difficile à cause des très faibles quantités de…

Caractéristiques techniques

SEM-FEG

  • Tension : 0,02 à 30 kV
  • Grossissement : 12 à 1 000 000 X
  • Résolution : 0,8 nm à 15 kV et 2.0 nm à 1.2 kV
  • Temps d’acquisition typique : quelques secondes

EDX

  • Elément détectables : tous les éléments avec Z ≥ 6 (carbone)
  • Profondeur d’analyse de l’ordre du μm
  • Limite de détection : 0,5-2 % en poids pour la plupart des éléments
  • Analyse quantitative : 10 à 20 % maximum d’erreur relative
  • Temps d’acquisition typique : quelques minutes à dizaines de minutes (cartographie

Complémentarité avec d'autres techniques

Microscopie à force atomique (AFM)

Microtomographie rayons X (µCT)

Fluorescence rayons X en microfaisceaux (µXRF)

Diffusion des rayons X aux petits et grands angles (SAXS, WAXS)

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